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原著報告抄録

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International Journal of Affective Engineering 15巻 4号

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発行元: 日本感性工学会

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ISSN（オンライン）: 2187-5413

前雑誌: Kansei Engineering International Journal; KANSEI Engineering International

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A Study of Cancelable Biometrics in the Security Improvement of Biometric Authentication System using Fault Tree Analysis

Sanggyu SHIN*, Yoichi SETO*, Shogo SHIMIZU**
*Advanced Institute of Industrial Technology, **Gakushuin Women's College
International Journal of Affective Engineering 15 (4) 351-359, 2016.

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