アブストラクト
| Title | EMIスキャナー(CT-1000)の断層厚さの測定 |
|---|---|
| Subtitle | |
| Authors | 馬場仁*1, 阿保昌公*1, 吉本清一*1, 小牧専一郎*2, 松浦啓一*2 |
| Authors (kana) | |
| Organization | *1九州大学医学部附属病院放射線部, *2九州大学医学部放射線科学教室 |
| Journal | 断層撮影法研究会雑誌 |
| Volume | 5 |
| Number | 1 |
| Page | 98-100 |
| Year/Month | 1977 / |
| Article | 報告 |
| Publisher | 断層撮影法研究会 |
| Abstract |
1. 目的 CTにおける断層厚さは, 従来のX線フィルムによる断層撮影のように振角によって決まるのではなく, X線管側および検出器側のスリットの大きさによって決まる1). それに, 普通のスキャンでは...
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| Practice | 医療技術 |
| Keywords |
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